191・リガク /RINT-2000 /粉末X線回折装置（Rigaku RINT-2000 XRD）

光学系切り替え時の再調整が不要な、フレキシブル光学系です。
入射スリット（DS）、受光スリット（RS、SS）ボックスを取り外さず、ソーラースリットのみの交換ができます。この機構により、集中法光学系と平行ビーム法光学系の切替えが容易に行え、再調整が不要となる画期的なシステムです。
ワンタッチ光学系切り替えが可能な、カウンタモノクロメータです。
従来のモノクロメータは、集中法光学系と平行ビーム法光学系で、それぞれに湾曲状と平板状の分光結晶を用意する必要がありました。本システムは、結晶の90°回転だけで光学系の切替えを実現します。
SSまで自動設定できる、自動可変スリットです。入射スリット（DS）、受光スリット（RS、SS）は、自動可変スリット機構を装備しており、スリット幅固定測定法と照射幅一定測定法が選択できます。
これには、DS、RS幅に合わせ、SS幅を自動設定する画期的な機構も併せ持っています。
本システムには、以下オプション及びマニュアルが含まれています。
縦型ゴニオメータ、サンプルチェンジャ ASC-6B、RINT用固定モノクロメータ、縦型多層膜ミラーモノクロメータ、Jade 6 ソフトウェアダイレクトドライブ型 ロータターゲット（DPTA-Ⅱ）、RINT2000/PC システム制御駆動部（RCD3）、サンプルチェンジャ ASC-6A、ASC-6B、ASC-6S
小角・広角X線回折装置（SWXD）多層膜ミラー付き3スリット光学系、RINT2000シリーズ/単独型用 縦型/横型ロータフレックス
本システムには、粒径・空孔径解析ソフトウェア NANO-Solverが含まれています。
X線小角散乱法を用いて、ナノオーダーの粒子・空孔のサイズ分布を簡単に算出できるソフトウェアです。
小角散乱データに基づいて、粉末、バルク、薄膜、液体などの媒体に存在する粒子や空孔のサイズ分布を解析します。
球、コアシェル、円筒、回転楕円体といった様々な形状の粒子や空孔を解析できるほか、不定形状のものを回析するためのデバイモデルも搭載しています。散乱強度パターンをフーリエ変換することによって、三次元相関関数及び距離分布関数を算出します。
リガク社独自のスリット補正を用いれば、ライン光学系で測定した小角散乱データからでも算出することができます。
試料の表面や界面の粗さをパラメーターとして与えることができるため、特に粒子や空孔の絶対量が少ない場合や、サイズが小さい場合などに威力を発揮します。
小角散乱データは、アンブレラ効果の影響を大きく受けるため、得られる散乱強度パターンは大きく歪んでいます。
これを補正するのが”スリット補正”です。リガク独自のアルゴリズムで、正確なサイズ分布解析を行います。